Title: Towards full-scale and full-dimension mass spectrometry: application of high-resolution SIMS in Geosciences

[Abstract]
최근 지질과학 및 우주행성물질 연구에서 고분해능 이차이온질량분석법(SIMS)은 시료의 미세구조 를 정밀하게 분석하고, 연대측정을 포함한 다양한 동위원소 및 원소 조성을 파악하는 데 중요한 역할을 하고 있습니다. 이 세미나 강의에서는 마이크로빔 SIMS 기술의 발전과 이를 활용한 지질 과학적 응용법을 소개하며, 특히 지구 및 행성 물질의 기원과 진화를 추적하는 최신 연구 결과를 소개합니다. 고분해능 이차이온 질량분석기 기술을 통해 밝혀진 주요 사례들을 통해, 앞으로 우주 행성물질 분석을 위한 연구 방향과 가능성을 고민해 보고자 합니다.