연구장비

X-선 회절분석기는 X선을 시료에 조사했을 때 발생하는 회절선을 이용하여 시료의 격자구조에 대한 정보를 얻는 장비이다. 광물과 같은 결정질의 지구물질은 내부 격자구조에서 나타나는 결정면에 의해 특정한 입사각으로 조사된 -선을 보강간섭하게 하며, 이를 통해 시료의 격자구조가 어떠한 결정계에 속하는지, 그리고 격자구조가 어떠한 대칭을 가지고 있는지 유추할 수 있다. 특히 시료의 조성을 알고 있을 경우, X-선 회절분석 결과를 통해 시료가 어떤 광물로 구성되어 있는지 알 수 있다. 비정질 지구물질의 경우 특유의 격자구조가 사라진 원자구조에 의하여 나타나는 회절패턴을 얻을 수 있다.